4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors
Process and characterization techniques
Autor:
LAP Lambert Academic Publishing
Verlag:
LAP Lambert Academic Publishing
Sprache:
English
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Untertitel
Process and characterization techniques
ISBN
978-3-838-38064-3
EAN
9783838380643
Erscheinungsjahr
7/26/2010
Verlag
LAP Lambert Academic Publishing
Author
Perrone, Denis
Sprache
English
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