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4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors

Process and characterization techniques

Autor:

LAP Lambert Academic Publishing

Verlag:

LAP Lambert Academic Publishing

Sprache:

English
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CHF 64.00

Preise inkl. MwSt. und Versandkosten (portofrei ab CHF 40.00)
Untertitel
Process and characterization techniques
ISBN
978-3-838-38064-3
EAN
9783838380643
Erscheinungsjahr
7/26/2010
Verlag
LAP Lambert Academic Publishing
Author
Perrone, Denis
Sprache
English
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