High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Autor:
CRC Press
Verlag:
CRC Press
Sprache:
English
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CHF 106.00
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ISBN
978-0-367-40063-7
EAN
9780367400637
Erscheinungsjahr
10/10/2019
Verlag
CRC Press
Author
Bowen, D K;Tanner, Brian K
Sprache
English
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