Efficient Test Data Compression and Fault Analysis in VLSI Circuits
Test Data Compression and Decompression Using Efficient Bitmask and Dictionary Selection Method
Autor:
Scholars' Press
Verlag:
Scholars' Press
Sprache:
English
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CHF 59.90
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Untertitel
Test Data Compression and Decompression Using Efficient Bitmask and Dictionary Selection Method
ISBN
978-6-138-83430-4
EAN
9786138834304
Erscheinungsjahr
5/31/2019
Verlag
Scholars' Press
Author
Subramaniam, Sivaganesan
Sprache
English
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