Perspectives on Plagiarism and Intellectual Property in a Postmodern World
Autor:
State University Of New York Press
Verlag:
State University Of New York Press
Sprache:
English
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CHF 130.00
Preise inkl. MwSt. und Versandkosten (portofrei ab CHF 40.00)
ISBN
978-0-791-44079-7
EAN
9780791440797
Erscheinungsjahr
4/23/1999
Verlag
State University Of New York Press
Sprache
English
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