Bei bookbox finden Sie eine riesige Auswahl an Büchern aller Genres. Egal, ob Bestseller, Klassiker oder Geheimtipps - wir haben für jeden Lesegeschmack etwas dabei.
Suchen
Suchen

Secondary Ion Mass Spectrometry

Applications for Depth Profiling and Surface Characterization

Autor:

Momentum Press

Verlag:

Momentum Press

Sprache:

English
Keine Beschreibung für das Buch

CHF 99.00

Preise inkl. MwSt. und Versandkosten (portofrei ab CHF 40.00)
Untertitel
Applications for Depth Profiling and Surface Characterization
ISBN
978-1-606-50588-5
EAN
9781606505885
Erscheinungsjahr
9/15/2015
Verlag
Momentum Press
Author
Stevie, Fred
Sprache
English
Momentum Press weitere Bücher

Bewertungen

0 Bewertungen