Spectroscopic Ellipsometry for the In-situ Investigation of Atomic Layer Depositions
Autor:
Grin Verlag
Verlag:
Grin Verlag
Sprache:
English
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CHF 63.00
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ISBN
978-3-656-92315-2
EAN
9783656923152
Erscheinungsjahr
4/27/2015
Edition
15001 A. 1. Auflage
Verlag
Grin Verlag
Author
Sharma, Varun
Sprache
English
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