VLSI Design and Test
17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Autor:
Springer Berlin Heidelberg
Verlag:
Springer Berlin Heidelberg
Sprache:
English
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Untertitel
17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
ISBN
978-3-642-42023-8
EAN
9783642420238
Erscheinungsjahr
12/10/2013
Edition
2013
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Sprache
English
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