Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP und GaSb mittels Transmissionselektronenmikroskopie
Autor:
Diplom.de
Verlag:
Diplom.de
Sprache:
German
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CHF 43.00
Preise inkl. MwSt. und Versandkosten (portofrei ab CHF 40.00)
ISBN
978-3-832-41184-8
EAN
9783832411848
Erscheinungsjahr
11/24/1998
Verlag
Diplom.de
Author
Jäger, Christian
Sprache
German
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